Insertion loss: differenze tra le versioni

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==Filtri Elettronici==
L'insertion loss è una [[cifra di merito]] per un [[filtro (elettronica)|filtro]] e questa informazione è generalmente specificata con un filtro. L'insertion loss è definito come il rapporto tra il livello del segnale in un test di configurazione senza applicare il filtro (|''V''<sub>1</sub>|) e il livello di segnale con il filtro applicato (|''V''<sub>2</sub>|). Questo rapporto è descritto in [[decibel|dB]] dalla seguente equazione :
 
L'insertion loss è una [[cifra di merito]] per un [[filtro (elettronica)|filtro]] e questa informazione è generalmente specificata con un filtro. L'insertion loss è definito come il rapporto tra il livello del segnale in un test di configurazione senza applicare il filtro (|''V''<sub>1</sub>|) e il livello di segnale con il filtro applicato (|''V''<sub>2</sub>|). Questo rapporto è descritto in [[decibel|dB]] dalla seguente equazione :
 
:<math>\mbox{Insertion loss (dB)} = 10 \log_{10} {\left|V_1\right|^2 \over \left|V_2\right|^2} = 20 \log_{10} {\left|V_1\right| \over \left|V_2\right|}</math>
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==Legame con i parametri di scattering==
Nel caso in cui le due porte di misurazione utilizzino la stessa impedenza di riferimento, l'insertion loss (<math>IL</math>) è definito come<ref>Pozar, David M.; ''Microwave Engineering, Third Edition''</ref><ref>Collin, Robert E.; ''Foundations For Microwave Engineering, Second Edition'' </ref>:
 
Nel caso in cui le due porte di misurazione utilizzino la stessa impedenza di riferimento, l'insertion loss (<math>IL</math>) è definito come<ref>Pozar, David M.; ''Microwave Engineering, Third Edition''</ref><ref>Collin, Robert E.; ''Foundations For Microwave Engineering, Second Edition'' </ref>:
 
:<math> IL = -20\log_{10}\left|S_{21}\right| \,\text{dB}</math>
 
e non, come spesso erroneamente indicato, da :
 
<math>IL = 10\log_{10}\frac{\left|S_{21}\right|^2}{1-\left|S_{11}\right|^2}</math> dB.
 
È la perdita ulteriore di potenza prodotta dall'introduzione del [[DUT]] (''device under test'', "dispositivo sotto collaudo") fra i due piani delle misurazione. Da notare che l'ulteriore perdita può essere introdotta nel DUT da una perdita intrinseca e/o da un errato accoppiamento. In caso di perdita ulteriore l'insertion loss è impostata per essere positiva.
 
Per ulteriori dettagli, vedi l'articolo su [[Parametri s#Proprietà dei parametri S nelle reti bipolari#Insertion loss|Parametri di scattering]].
 
==Note==
<references/>
 
==Bibliografia==
* Questo articolo incorpora materiale di [[pubblico dominio]] dal documento [http://www.its.bldrdoc.gov/fs-1037/fs-1037c.htm "Federal Standard 1037C"] della General Services Administration del [[governo federale degli Stati Uniti d'America]]
 
==Voci correlate==
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* [[Adattamento di impedenza]]
 
{{Portale|elettrotecnica|telematica}}
==Note==
<references/>
 
==Bibliografia==
* Questo articolo incorpora materiale di [[pubblico dominio]] dal documento [http://www.its.bldrdoc.gov/fs-1037/fs-1037c.htm "Federal Standard 1037C"] della General Services Administration del [[governo degli Stati Uniti d'America]]
 
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[[Categoria:Ingegneria delle comunicazioni]]