Insertion loss: differenze tra le versioni

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==Legame con i parametri di scattering==

Nel caso in cui le due porte di misurazione utilizzino la stessa impedenza di riferimento, l'insertion loss (<math>IL</math>) è definito come<ref>Pozar, David M.; ''Microwave Engineering, Third Edition''</ref><ref>Collin, Robert E.; ''Foundations For Microwave Engineering, Second Edition'' </ref>:

:<math> IL = -20\log_{10}\left|S_{21}\right| \,\text{dB}</math>

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<math>IL = 10\log_{10}\frac{\left|S_{21}\right|^2}{1-\left|S_{11}\right|^2}</math> dB.

È la perdita ulteriore di potenza prodotta dall'introduzione del [[DUT]] (''device under test'', "dispositivo sotto collaudo") fra i due piani delle misurazione. Da notare che l'ulteriore perdita può essere introdotta nel DUT da una perdita intrinseca e/o da un errato accoppiamento. In caso di perdita ulteriore l'insertion loss è impostata per essere positiva.

Per ulteriori dettagli, vedi l'articolo su [[Parametri s#Proprietà dei parametri S nelle reti bipolari#Insertion loss|Parametri di scattering]].

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==Bibliografia==

* Questo articolo incorpora materiale di [[pubblico dominio]] dal documento [http://www.its.bldrdoc.gov/fs-1037/fs-1037c.htm "Federal Standard 1037C"] della General Services Administration del [[governo federale degli Stati Uniti d'America]]

==Voci correlate==

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{{Portale|elettrotecnica|telematica}}

[[Categoria:Ingegneria delle comunicazioni]]