Microscopio a effetto tunnel: differenze tra le versioni
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Riga 10:
| pagina = 4
| anno = 1986
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| lingua = en
}}</ref><ref>{{cita web
| url = http://nobelprize.org/nobel_prizes/physics/laureates/1986/press.html
| titolo = Press release for the 1986 Nobel Prize in physics
| accesso
| lingua = en
| data
| anno = 1986
| mese = ottobre
Riga 27:
| anno = 2000
| url = http://books.google.com/books?id=3Q08jRmmtrkC&pg=PA345
| isbn =
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| lingua = en
}}</ref> Con questa risoluzione, i singoli atomi all'interno dei materiali vengono regolarmente ripresi e manipolati. Il STM può essere utilizzato non solo nell'ultra alto vuoto, ma anche nell'aria, nell'acqua e in vari altri liquidi o gas ambienti e a temperature che variano da quasi [[zero assoluto|zero kelvin]] a poche centinaia di gradi Celsius.<ref name="Chen">{{cita libro
Riga 36:
| url = http://www.columbia.edu/~jcc2161/documents/stm_R.pdf
| formato = PDF
| isbn =
| editore = Oxford University Press
| accesso
| lingua = en
}}</ref>
Riga 57:
| anno = 2003
| url = http://books.google.com/books?id=TTPMbOGqF-YC&pg=PP1
| isbn =
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| lingua = en
}}</ref> Questo porta a una variazione di altezza e quindi l'immagine giunge dalla topografia della punta attraverso il campione fornendo una superficie di densità di carica costante; ciò significa che il contrasto concernente l'immagine è dovuto alle variazioni di densità della carica.<ref name="Bonnell">{{cita libro
Riga 72:
| anno = 2001
| mese = gennaio
| accesso
| lingua = en
|
}}</ref> Nella ''modalità di altezza costante'', la tensione e l'altezza sono entrambe tenute costanti mentre le variazioni di corrente impediscono alla tensione di cambiare; questo comporta un'immagine fatta di una variazione di corrente sulla superficie che può essere correlata alla densità di carica.<ref name="Bonnell"/> Il vantaggio di utilizzare la ''modalità di altezza costante'' sta nella sua maggiore velocità, dato che i movimenti piezoelettrici richiedono più tempo per registrare il cambiamento nella ''modalità di corrente costante'' rispetto alla risposta di tensione in ''modalità di altezza costante''.<ref name="Bonnell"/> Tutte le immagini prodotte dal STM sono nella scala dei grigi, con colore aggiunto opzionalmente in un'elaborazione successiva al fine di evidenziare visivamente le caratteristiche importanti.
Oltre alla scansione attraverso il campione, le informazioni sulla struttura elettronica in una data posizione nel campione possono essere ottenute dalla tensione rapida e misurando la corrente in un'area specifica.<ref name="Bai"/> Questo tipo di misurazione è chiamato [[spettroscopia a effetto tunnel]] (STS, ''Scanning Tunneling Spectroscopy'') e in genere i risultati vengono visualizati in un diagramma di [[densità degli stati]] locali in funzione dell'energia all'interno del campione. Il vantaggio del STM su altre misurazioni della densità degli stati risiede nella sua capacità di effettuare misurazioni estremamente localizzate: per esempio, la densità degli stati in un'area di [[impurezza]] può essere paragonata alla densità degli stati di gran lunga distante dalle impurità.<ref name="Pan">{{cita pubblicazione
Riga 90:
| titolo = Imaging the effects of individual zinc impurity atoms on superconductivity in Bi<sub>2</sub>Sr<sub>2</sub>CaCu<sub>2</sub>O<sub>8</sub>+delta
| numero = 6771
| accesso
| lingua = en
}}</ref>
Riga 98:
| coautori = Marcel J. Rost
| anno = 2008
| data
| titolo = Scanning probe microscopy at video-rate
| rivista = Materials Today
Riga 109:
| url = http://www.materialstoday.com/view/2194/scanning-probe-microscopy-at-videorate/
| formato = PDF
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| lingua = en
}}</ref><ref>{{cita pubblicazione
Riga 123:
| url = http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#fast1993
| formato = PDF
| accesso
| lingua = en
}}</ref> Questo può essere utilizzato per scansionare la [[diffusione]] di superficie.<ref>{{cita pubblicazione
Riga 136:
| doi = 10.1103/PhysRevLett.76.459
| id=PMID 10061462
| accesso
| lingua = en
}}</ref>
Riga 156:
| volume = 123-124
| pagine = 655-659
| accesso
| lingua = en
| id = ISSN 0924-4247
Riga 176:
| url = http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#analytical1995
| formato = PDF
| accesso
| lingua = en
}}([http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#analytical1995 Russian translation] is available).</ref><ref>{{cita pubblicazione
Riga 189:
| url = http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#automatic2007
| formato = PDF
| accesso
| lingua = en
}}</ref> e la rappresentazione di misure quantitative.<ref>{{cita pubblicazione
Riga 202:
| url = http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#feature2004
| formato = PDF
| accesso
| lingua = en
}}</ref>
Riga 291:
| pagine = 57-59
| anno = 1961
| accesso
| lingua = en
| doi = 10.1103/PhysRevLett.6.57
Riga 323:
| pagina = 999
| anno = 1972
| accesso
| lingua = en
}}</ref> faceva assegnamento sull'emissione di campo. Ad ogni modo, Young è accreditato dal Comitato per il Nobel come la persona che ha compreso l'esistenza della possibilità di poter ottenere una migliore risoluzione utilizzando l'effetto tunnel.<ref>{{cita news
Riga 330:
| titolo = The Topografiner: An Instrument for Measuring Surface Microtopography
| editore = NIST
| accesso
| lingua = en
}}</ref>
Riga 356:
* {{En}} R. V. Lapshin, Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology, [http://stacks.iop.org/Nano/15/1135 Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004]
* {{En}} D. Fujita and K. Sagisaka, Topical review: Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy [http://dx.doi.org/10.1088/1468-6996/9/1/013003 Sci. Technol. Adv. Mater. 9, 013003(9pp) (2008)] (free download).
* {{En}} {{cita libro|url=http://books.google.com/books?id=EXae0pjS2vwC&printsec=frontcover|titolo=Scanning probe microscopy and spectroscopy: methods and applications|autore=Roland Wiesendanger|editore=Cambridge University Press|year=1994|isbn=
* {{En}} ''Theory of STM and Related Scanning Probe Methods.'' Springer Series in Surface Sciences, Band 3. Springer, Berlin 1998
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