Visual Analyser: differenze tra le versioni

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Scritto a partire dal 2002, la versione 1.0 è stata rilasciata approssimativamente nel 2003 sino ad arrivare rapidamente alla versione 3.0. Il programma attira l'attenzione della rivista di Elettronica "Elettronica In<ref>{{Cita web|url=https://www.elettronicain.it/|titolo=Elettronica In - Mensile di progettazione elettronica - Attualità scientifica - Novità tecnologiche|sito=Elettronica In|lingua=it-IT|accesso=2020-09-23}}</ref>" che nel numero di [http://www.sillanumsoft.org/review01.htm dicembre 2003/gennaio 2004] pubblica un articolo scritto dallo stesso autore intitolato "''Oscilloscopio ed analizzatore di Spettro su PC''". Le versioni iniziano a susseguirsi a ritmo frenetico, grazie ai numerosi suggerimenti degli utenti che iniziano a essere dislocati un po' in tutto il mondo. Al tempo i programmi similari erano pochissimi (VA è stato forse uno dei primi in assoluto); VA era gratuito e molto potente e rapidamente divenne un successo.

Arrivati alla versione 8, il programma fu oggetto di una tesi di laurea (dello stesso autore) dal titolo "''Sviluppo di uno strumento virtuale Real-Time per la generazione, analisi e acquisizione dei segnali''" per la laurea Vecchio Ordinamento in Ingegneria Informatica; nel mentre anche la rivista ''Nuova Elettronica'' <ref>{{Cita web|url=https://archive.org/search.php?query=subject:%22Nuova+elettronica%22|titolo=Nuova Elettronica|sito=archive.org|lingua=en|accesso=2020-09-23}}</ref>si interessò a VA (Nuova Elettronica ha ora interrotto le pubblicazioni), iniziò una collaborazione con l’autore e nel corso degli anni vennero pubblicati numerosi articoli, che illustravano le varie funzionalità di VA oltre alla presentazione di una serie di scatole di montaggio che estendevano le possibilità del programma in maniera considerevole. In particolare sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuovaelettronica.htm 232] venne presentato il progetto di un hardware esterno (collegato tramite USB) intitolato “''Oscilloscopio e Analizzatore di Spettro per PC''” cui segui un secondo articolo nella rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuovaelettronica.htm 233] (kit LX1690-1691-1691B). Successivamente sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/NE3.htm 238] fu presentato il progetto di una nuova interfaccia hardware per misurare la distorsione di un amplificatore BF (kit LX1729) e sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuova_elettronica_4.htm 249] il progetto di un hardware aggiuntivo necessario per mettere in grado VA di misurare le Impedenze (kit LX1746) di qualsiasi natura (persino l’impedenza d’ingresso di un amplificatore).

Quest’ultimo progetto ebbe origine nella [http://www.sillanumsoft.org/Download/PhD_ACCATTATIS.pdf tesi di Dottorato] dal titolo “''Strumentazione virtuale per la misura di grandezze elettriche e calcolo dell’incertezza''” (Relatore prof. [https://www.linkedin.com/in/salmeri/?originalSubdomain=it Marcello Salmeri]) pubblicata nel 2010 presso l’Università degli studi di Roma “Tor Vergata” che faceva uso di nuovi algoritmi per il calcolo dell'impedenza e applicava a tutti gli strumenti realizzati il ''calcolo dell'incertezza di misura''.

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In particolare con l'Università inizia una duratura collaborazione per mezzo del [http://www.gmee.org GMEE] (Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche) e presso il dipartimento di Ingegneria Elettronica (prof. Marcello Salmeri), tuttora in corso.

Ancora, la rivista ''Fare Elettronica'' <ref>{{Cita web|url=https://farelettronica.it/web/search/visual+analyser/|titolo=Visual Analyser|sito=Fare Elettronica|lingua=it-IT|accesso=2020-09-23}}</ref>si interessa a VA e pubblica vari articoli dell’autore (n. [http://www.sillanumsoft.org/fare_elettronica_1.htm 22] nov. 2006 “V''isual Analyser: un programma Windows per la simulazione di strumenti di misura e generazione di forme d’onda''”, n. [http://www.sillanumsoft.org/fare_elettronica_2.htm 23] Gen. 2007 “''Visual Analyser: la misura della risposta in frequenza di un amplificatore audio''”).

In ambito accademico Visual Analyser è stato presentato presso il congresso [http://www.sillanumsoft.org/Imeko.htm IMEKO] in due occasioni (IMEKO 2008) ed oggetto di una pubblicazione (“'''''A real time FFT-based impedance meter with bias compensation'''''," Measurement (Elsevier), vol. 44, pp. 702-707, January 2011) che illustrava dettagliatamente l'algoritmo innovativo utilizzato.

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15)  '''Cepstrum''' di un segnale, ossia possibilità di calcolare in tempo reale il “cepstrum” di un segnale.

== Note ==

<references />

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