Visual Analyser: differenze tra le versioni

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Quest’ultimo progetto ebbe origine nella [http://www.sillanumsoft.org/Download/PhD_ACCATTATIS.pdf tesi di Dottorato] dal titolo “''Strumentazione virtuale per la misura di grandezze elettriche e calcolo dell’incertezza''” (Relatore prof. [https://www.linkedin.com/in/salmeri/?originalSubdomain=it Marcello Salmeri]) pubblicata nel 2010 presso l’Università degli studi di Roma “Tor Vergata”; nella tesi si discutono nuovi algoritmi per il calcolo dell'impedenza, si descrive l'hardware appositamente realizzato, e si aggiunge a tutti gli strumenti realizzati il ''calcolo [[Incertezza di misura|dell'incertezza di misura]]''.
 
In particolare con l'Università inizia una duratura collaborazione, anche per mezzo del [http://www.gmee.org GMEE] (''Gruppo Misure Elettriche ed Elettroniche'') e presso il dipartimento di ''Ingegneria Elettronica'' e il prof. Marcello Salmeri, tuttora in corso d'opera.
 
Ancora, la rivista ''Fare Elettronica''<ref>{{Cita web|url=https://farelettronica.it/web/search/visual+analyser/|titolo=Visual Analyser|sito=Fare Elettronica|lingua=it-IT|accesso=2020-09-23}}</ref>si interessa a VA e pubblica vari articoli dell’autore (n. [http://www.sillanumsoft.org/fare_elettronica_1.htm 22] nov. 2006 “V''isual Analyser: un programma Windows per la simulazione di strumenti di misura e generazione di forme d’onda''”, n. [http://www.sillanumsoft.org/fare_elettronica_2.htm 23] Gen. 2007 “''Visual Analyser: la misura della risposta in frequenza di un amplificatore audio''”).
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2) Analizzatore di spettro, con rappresentazione lineare, logaritmica, a ottave, calcolo correlazione e cross correlazione.
 
3) Analizzatore di spettro con frequenze completmente arbitrarie questa recentissima funzione è stata introdotta abbandonando l’analisi spettrale per mezzo dell’FFT ed utilizzando “batterie” di filtri di [[Goertzel]] rendendo così possibile la costruzione di un analizzatore di spettro le cui componenti sono completamente arbitrarie (con frequenze persino decimali). Ulteriore possibilità è data dalla possibilità di visualizzare lo spettro arbitrario così ottenuto in superfici 3D completamente in TEMPO REALE ed a colori differenziati .
 
4) Compensazione della risposta in frequenza, tramite applicazione di curva di risposta arbitraria, definita graficamente, e curve standard A,B,C applicabili anche in “parallelo” a quella customizzata.
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7) Voltmetro AC/DC (DC per le sole schede di acquisizione accoppiate in continua) con rilevazione vero valore efficace (true RMS), picco, picco-picco, medio e livelli in dB.
 
8) Tarature degli strumenti in tensione (volt, millivolt) o decibel tramite procedura automatica e salvata su file. La taratura è “lineare” nel senso che verrà effettuata la lettura di un valore, di incertezza nota; lo strumento ipotizza che ci sia una relazione lineare per tutta la scala di misura. Essa verrà applicata al voltmetro, oscilloscopio ed ananlizzatoreanalizzatore di spettro
 
9) Filtri digitali: è possibile inserire una serie canonica di filtri digitali (passa basso, alto, elimina banda, notch, notch inverso, “allpass”, diodo, rimozione componente continua) nel “percorso” del segnale per effettuare misure sui segnali filtrati; possibilità di inviare in uscita, in tempo reale, il segnale filtrato.
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12) Distorsiometro (THD, THD+noise) con cattura e algoritmo di compensazione della THD propria della scheda di acquisizione.
 
13) Rilevazione automatica della risposta in frequenza di dispositivi, tramite uso automatico di (1), (2) e (4) (esempio rilevazione della risposta in frequenafrequenza di un amplificatore oppure di un sistema cassa microfono.
 
14) ZRLC misura d’impedenza (resistenza, capacità, induttanza, parte reale e immaginaria, angolo di fase,) con possibilità di visualizzazione grafica dell’impedenza (vettorscopio), valutazione dell’incertezza delle misure, media infinita, calcolo incertezza con metodi statistici, procedura di auto taratura/calibrazione, sweep di misura nel dominio del tempo e della frequenza con acquisizione del grafico e possibilità di salvataggio, impostazione della resistenza di riferimento e tolleranza relativa, uso di modello serie e parallelo, calcolo di fattore di merito Q e D, azzeramento manuale, autodeterminazione dei livelli del segnale. Questo è uno dei pochi strumenti che non può funzionare senza una scheda hardware dedicata, il progetto completo si trova nella rivista Nuova Elettronica n. [http://www.sillanumsoft.org/nuova_elettronica_4.htm 249]
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== Altri progetti ==
 
* [[Wikimedia Commons]] contiene immagini o altri file su '''Visual Analyser'''
 
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* VA su [https://www.hitsquad.com/smm/programs/VA/ HitSquad]
* Recensione VA [http://www.mcgee-flutes.com/VA-Intro.htm]
 
{{Portale|software libero}}