Visual Analyser: differenze tra le versioni

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== Storia ==

Scritto interamente in C++ (al 2020 supera il ''milione'' di linee di codice) è opera di una sola persona {{Collegamento(v. pagina curriculum interrotto|1=http[https://it.linkedin.com/in/accattatis }}autore]) e della collaborazione di tutto il mondo per la sua modifica e messa a punto.

Scritto a partire dal 2002, la versione 1.0 è stata rilasciata approssimativamente nel 2003 sino ad arrivare rapidamente alla versione 3.0. Il programma attira l'attenzione della rivista di elettronica ''Elettronica In''<ref>{{Cita web|url=https://www.elettronicain.it/|titolo=Elettronica In - Mensile di progettazione elettronica - Attualità scientifica - Novità tecnologiche|sito=Elettronica In|lingua=it-IT|accesso=2020-09-23}}</ref> che nel numero di [http://www.sillanumsoft.org/review01.htm dicembre 2003/gennaio 2004] pubblica un articolo scritto dallo stesso autore intitolato "''Oscilloscopio ed analizzatore di Spettro su PC''". Le versioni iniziano a susseguirsi a ritmo sostenuto, grazie ai numerosi suggerimenti degli utenti che sono dislocati un po' in tutto il mondo. Al tempo i programmi simili a VA erano pochissimi (VA è stato forse uno dei primi in assoluto); VA era (ed è) gratuito e molto potente; la sua diffusione è stata veloce in ambito amatoriale, professionale e accademico. In particolare in quest'ultimo si è diffuso come laboratorio didattico di misure a bassissimo costo.

Arrivati alla versione 8, nel 2006 il programma fu oggetto di una [http://www.sillanumsoft.org/Download/ThesisVA.pdf tesi di laurea] dal titolo "''Sviluppo di uno strumento virtuale Real-Time per la generazione, analisi e acquisizione dei segnali''" per la laurea vecchio ordinamento in Ingegneria informatica presso l'Università di Roma "Tor Vergata" (Relatore prof. Salvatore Tucci e co-relatorecorelatore prof. Marcello Salmeri); nel mentre anche la rivista ''Nuova Elettronica''<ref>{{Cita web|url=https://archive.org/search.php?query=subject:%22Nuova+elettronica%22|titolo=Nuova Elettronica|sito=archive.org|lingua=en|accesso=2020-09-23}}</ref>si interessa a VA (Nuova Elettronica ha ora interrotto le pubblicazioni); inizia una collaborazione con l’autore e nel corso degli anni sono stati pubblicati numerosi articoli, che illustrano le varie funzionalità di VA oltre alla presentazione di una serie di scatole di montaggio che estendono le possibilità del programma in maniera considerevole. In particolare sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuovaelettronica.htm 232] viene presentato il progetto di un hardware esterno (collegato tramite USB) intitolato “''Oscilloscopio e Analizzatore di Spettro per PC''” cui segui un secondo articolo nella rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuovaelettronica.htm 233] (kit LX1690-1691-1691B). Successivamente sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/NE3.htm 238] fu presentato il progetto di una nuova interfaccia hardware per misurare la distorsione di un amplificatore audio (kit LX1729) e sulla rivista n. [http://www.sillanumsoft.org/nuova_elettronica_4.htm 249] il progetto di un hardware (kit LX1746) con il quale si aggiunge a VA la possibilità di misurare l'Impedenza di un bipolo (di qualsiasi natura: per esempio l’impedenza d’ingresso di un amplificatore).

Quest’ultimo progetto ebbe origine nella [http://www.sillanumsoft.org/Download/PhD_ACCATTATIS.pdf tesi di Dottorato] dal titolo “''Strumentazione virtuale per la misura di grandezze elettriche e calcolo dell’incertezza''” (Relatore prof. [https://www.linkedin.com/in/salmeri/?originalSubdomain=it Marcello Salmeri]) pubblicata nel 2010 presso l’Università degli studi di Roma “Tor Vergata”; nella tesi si discutono nuovi algoritmi per il calcolo dell'impedenza, si descrive l'hardware appositamente realizzato, e si aggiunge a tutti gli strumenti realizzati il ''calcolo [[Incertezza di misura|dell'incertezza di misura]]''.

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In ambito accademico Visual Analyser è stato presentato presso il congresso [http://www.sillanumsoft.org/Imeko.htm IMEKO] in due occasioni (IMEKO 2008 e 2009) ed oggetto di una pubblicazione (“''A real time FFT-based impedance meter with bias compensation''," Measurement Elsevier<ref>{{Cita pubblicazione|nome=Alfredo|cognome=Accattatis|nome2=Giovanni|cognome2=Saggio|nome3=Franco|cognome3=Giannini|data=2011-05-01|titolo=A real time FFT-based impedance meter with bias compensation|rivista=Measurement|volume=44|numero=4|pp=702–707|lingua=en|accesso=2020-09-23|doi=10.1016/j.measurement.2011.01.008|url=http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0263224111000121}}</ref>, vol. 44, pp. 702-707, January 2011) che illustra dettagliatamente l'algoritmo innovativo utilizzato per la misura delle impedenze.

Articoli, tesi, pubblicazioni ed ogni tipo di materiale (compresi schemi di hardware aggiuntivo) sono liberamente scaricabili dal [httphttps://www.sillanumsoft.org/Italiano/scarica_programma.htm sito] dell’autore così come la versione più recente del programma (sito sia in Italiano che in Inglese, cliccare sulla bandiera animata).

=== Numerazione delle versioni ===