Insertion loss: differenze tra le versioni

Versione delle 01:29, 9 mar 2013

Versione delle 01:43, 9 mar 2013

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È da notare che, per la magfior parte dei filtri, |''V''₂| sarà minore di |''V''₁|. In questo caso, l'Insertion loss è positivo e misura di quanto si riduce il segnale dopo aver aggiunto il filtro.

==Legame con i parametri di scattering==

==Link with Scattering parameters==

Nel caso in cui le due porte di misurazione utilizzino la stessa impedenza di riferimento, l'Insertion loss (<math>IL</math>) è definito come<ref>Pozar, David M.; ''Microwave Engineering, Third Edition''</ref><ref>Collin, Robert E.; ''Foundations For Microwave Engineering, Second Edition'' </ref>:

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:<math> IL = -20\log_{10}\left|S_{21}\right| \,\text{dB}</math>

e non, come solitamente indicato,spesso erroneamente indicato, da :

<math>IL = 10\log_{10}\frac{\left|S_{21}\right|^2}{1-\left|S_{11}\right|^2}</math> dB.

C'èÈ unala perdita ulteriore di potenza prodotta dall'introduzione del [[DUT]] (''device under test'', "dispositivo sotto collaudo") fra i 2 piani delle misurazione. Da notare che l'ulteriore perdita può essere introdotta in maniera intrinseca nel DUT da una imperfezioneperdita intrinseca ANDe/ORo da in errato abbinamento. In caso di una perdita ulteriore l'insertion loss è impostato per essere positivo.

<!-- Ho alcuni dubbi sul termine DUT; presumo sia la sigla inglese per indicare Device Under Test ma non ne sono pienamente sicuro -->

Per ulteriori dettagli, leggerevedi l'articoliarticolo su [[ScatteringParametri parametersS#Insertion loss|Parametri Scatteringdi Parametersscattering]].

C'è una perdita ulteriore di potenza prodotta dall'introduzione del DUT fra i 2 piani delle misurazione. Da notare che l'ulteriore perdita può essere introdotta in maniera intrinseca nel DUT da una imperfezione AND/OR. In caso di una perdita ulteriore l'insertion loss è impostato per essere positivo.

Per ulteriori dettagli, leggere l'articoli su [[Scattering parameters#Insertion loss| Scattering Parameters]].

==Voci correlate==