Diffrazione neutronica: differenze tra le versioni
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La diffrazione neutronica è strettamente correlata alla diffrazione dei raggi X su polveri.<ref>{{Cita|David et al. 2002 ||Dav02 }}</ref> Di fatto misure su cristallo singolo sono meno comuni, dato che le attuali sorgenti di neutroni richiedono campioni relativamente grandi, e per la maggior parte dei materiali è difficile o impossibile ottenere cristalli singoli di dimensioni adeguate. In futuro la situazione potrebbe cambiare. Tipicamente si acquisisce un diffrattogramma 1D su polveri e lo si elabora affinando la struttura con il metodo di Rietveld. Questo metodo è stato sviluppato in origine da [[Hugo Rietveld]] per la diffrazione neutronica (1969),<ref>{{Cita|Rietveld 1969 ||Rie69 }}</ref> e solo in seguito è stato utilizzato per la diffrazione dei raggi X (1977).
Una applicazione pratica della diffrazione neutronica è la misura accurata della [[costante di reticolo]] di metalli e altri materiali cristallini. Usando un microposizionatore accuratamente allineato si può ricavare una mappa della costante di reticolo all'interno del metallo. Questa mappa si può poi convertire nel campo di [[tensione interna]] (stress) relativo al materiale. Dati di questo tipo sono stati usati ad esempio per analizzare la tensione interna di componenti per l'[[industria automobilistica]] e l'[[ingegneria aerospaziale]]. Sono stati inoltre sviluppati diffrattometri specifici per misure di tensione interna, come la strumentazione [[ENGIN-X]]<ref>{{cita web |autore= |url= http://www.isis.stfc.ac.uk/instruments/engin-x/ |titolo= Engin-X |accesso= 1º dicembre 2013 }}</ref> operativa presso la sorgente di neutroni
La diffrazione neutronica può anche fornire informazioni sulla struttura tridimensionale di qualsiasi materiale disperdente.<ref>{{Cita|Ojeda-May et al. 2007 ||Oje07 }}</ref><ref>{{Cita|Page et al. 2010 ||Pag10 }}</ref>
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